La sexta generación del SEM de escritorio Phenom ProX G6 llena el vacío existente entre la microscopía óptica y el análisis SEM en modelo de piso. Ofrece imágenes rápidas y de alta resolución, además de un detector integrado de difracción de rayos X de energía dispersiva (EDS) para un análisis elemental robusto, fácil de usar y rápido.

Tamaño de muestra hasta 25 mm de diámetro y 35 mm de alto, con posibilidad de incrementar.